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美國x射線鍍金膜厚儀
美國x射線鍍金膜厚儀可應(yīng)用于在線膜厚測量,測氧化物,SiNx,感光保護膜和半導(dǎo)體膜.也可以用來測量鍍在鋼,鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗
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美國臺式線路板膜厚儀
美國臺式線路板膜厚儀可實現(xiàn)如下測試要求：符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層X射線光譜法測量鍍層厚度 符合ASTM B568標準測試方法：X
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臺式x射線膜厚測試儀
臺式x射線膜厚測試儀是利用X射線進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制.博曼膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的
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臺式x熒光膜厚測試儀
臺式x熒光膜厚測試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng).它的出現(xiàn)
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博曼臺式x射線測厚儀
博曼臺式x射線測厚儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元合金層：例如Ni上的AuCdCu
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美國原裝鍍層膜厚儀
美國原裝鍍層膜厚儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金
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博曼鍍層膜厚測試儀
博曼鍍層膜厚測試儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。電制冷固態(tài)探測器
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博曼熒光電鍍膜厚儀
博曼熒光電鍍膜厚儀行業(yè)用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量. 應(yīng)用領(lǐng)域：黃金、鉑、銀等貴
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博曼臺式熒光測厚儀
博曼臺式熒光測厚儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合
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bowman X-RAY膜厚儀
bowman X-RAY膜厚儀1,可以測量多層膜中每一層的厚度2,三維的厚度型貌3,遠程控制和在線測量4,可做150mmor300mm 的大范圍的掃描測
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美國博曼熒光電鍍銅鎳金膜厚儀
美國博曼熒光電鍍膜厚儀隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。博曼熒光電鍍膜厚儀實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在
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bowman鍍層半導(dǎo)體膜厚儀
bowman鍍層半導(dǎo)體膜厚儀 新款BOWMAN X-Ray BA100是一臺款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀(EDXRF)。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金
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x熒光半導(dǎo)體鍍層測厚儀
博曼x熒光半導(dǎo)體鍍層測厚儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、
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bowman電鍍膜厚儀
bowman電鍍膜厚儀過濾器/準直器：4個初級濾波器,4個電動準直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)數(shù)字脈沖處理:4096 多通
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x熒光鍍銅鎳金膜厚儀
x熒光鍍銅鎳金膜厚儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金.
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博曼X-RAY膜厚儀
博曼X-RAY膜厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、電子器件、微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲存工業(yè)中的金屬薄膜厚度測量.測量更小、更快、
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X-RAY美國膜厚儀
X-RAY美國膜厚儀該款儀器特別為頗具挑戰(zhàn)性的RoHS/ WEEE分析而研發(fā)。而且，它還十分適合于測量黃金及其他貴金屬，分析金的成分重復(fù)性
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