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美國(guó)x射線鍍金膜厚儀
美國(guó)x射線鍍金膜厚儀可應(yīng)用于在線膜厚測(cè)量,測(cè)氧化物,SiNx,感光保護(hù)膜和半導(dǎo)體膜.也可以用來(lái)測(cè)量鍍?cè)阡?鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗
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X-RAY膜厚測(cè)試儀
X-RAY膜厚測(cè)試儀使用功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量,保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。是一款全面強(qiáng)大的X射線熒光
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美國(guó)臺(tái)式線路板膜厚儀
美國(guó)臺(tái)式線路板膜厚儀可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求:符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:金屬鍍層X(jué)射線光譜法測(cè)量鍍層厚度 符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:X
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臺(tái)式x射線膜厚測(cè)試儀
臺(tái)式x射線膜厚測(cè)試儀是利用X射線進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析,提高過(guò)程和質(zhì)量控制.博曼膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的
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臺(tái)式x熒光膜厚測(cè)試儀
臺(tái)式x熒光膜厚測(cè)試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨(dú)特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來(lái)測(cè)量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測(cè)量系統(tǒng).它的出現(xiàn)
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博曼臺(tái)式x射線測(cè)厚儀
博曼臺(tái)式x射線測(cè)厚儀可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金層:例如Ni上的AuCdCu
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美國(guó)原裝鍍層膜厚儀
美國(guó)原裝鍍層膜厚儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測(cè)量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金
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博曼鍍層膜厚測(cè)試儀
博曼鍍層膜厚測(cè)試儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器,能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。電制冷固態(tài)探測(cè)器
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博曼熒光電鍍膜厚儀
博曼熒光電鍍膜厚儀行業(yè)用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,LED支架,五金電鍍,連接器等多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測(cè)量. 應(yīng)用領(lǐng)域:黃金、鉑、銀等貴
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博曼臺(tái)式熒光測(cè)厚儀
博曼臺(tái)式熒光測(cè)厚儀可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合
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bowman X-RAY膜厚儀
bowman X-RAY膜厚儀1,可以測(cè)量多層膜中每一層的厚度2,三維的厚度型貌3,遠(yuǎn)程控制和在線測(cè)量4,可做150mmor300mm 的大范圍的掃描測(cè)
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美國(guó)博曼熒光電鍍銅鎳金膜厚儀
美國(guó)博曼熒光電鍍膜厚儀隨著檢測(cè)零件的微小化,對(duì)微區(qū)的高精度測(cè)量的需求日益增多。博曼熒光電鍍膜厚儀實(shí)現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度,即使在
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bowman鍍層半導(dǎo)體膜厚儀
bowman鍍層半導(dǎo)體膜厚儀 新款BOWMAN X-Ray BA100是一臺(tái)款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀(EDXRF)。它特別為快速無(wú)損地分析珠寶首飾、貴金
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bowman線路板膜厚儀
bowman線路板膜厚儀采用x射線的熒光原理方法,這是適合測(cè)量非鐵性鍍層在鋼材或非鐵性金屬底材上的厚度,甚至鎳層在鋼材上的厚度也可
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x熒光半導(dǎo)體鍍層測(cè)厚儀
博曼x熒光半導(dǎo)體鍍層測(cè)厚儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測(cè)量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、
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bowman電鍍膜厚儀
bowman電鍍膜厚儀過(guò)濾器/準(zhǔn)直器:4個(gè)初級(jí)濾波器,4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)數(shù)字脈沖處理:4096 多通
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bowman鍍層膜厚儀
bowman鍍層膜厚儀可分析的樣品種類繁多,包括固體、液體、粉末、糊狀物、薄膜等,檢測(cè)從ppm級(jí)至高達(dá)百分含量的濃度范圍,覆蓋元素周期
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x熒光鍍銅鎳金膜厚儀
x熒光鍍銅鎳金膜厚儀可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等.二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金.三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金.
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博曼X-RAY膜厚儀
博曼X-RAY膜厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、電子器件、微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存工業(yè)中的金屬薄膜厚度測(cè)量.測(cè)量更小、更快、
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X-RAY美國(guó)膜厚儀
X-RAY美國(guó)膜厚儀該款儀器特別為頗具挑戰(zhàn)性的RoHS/ WEEE分析而研發(fā)。而且,它還十分適合于測(cè)量黃金及其他貴金屬,分析金的成分重復(fù)性
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