點擊圖片查看大圖-PIN-探測器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.
設備遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497國際標準，主要基于核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng).
bowman膜厚測試儀采用全新數(shù)學計算方法,采用新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡
化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。
bowman膜厚測試儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。無數(shù)次的專利發(fā)明,包括使用DCM自動對焦方法和透明的準值器，操作簡單。不用調校.
X-射線管的距離也可測量，操作人員只需要調校樣品焦距便可以測量。
鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量，我公司是博曼（bowman）儀器的大陸代理商，專業(yè)銷售：復合鍍層測厚儀、X射線元素分析儀、線路板銅厚測量儀、合金分析儀、產(chǎn)品RoHS檢測儀，鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量儀.
整體描述：
美國BOWMAN X-RAY 設備遵循 ASTM B568， DIN 50 987 和 ISO 3497 等國家和國際標準，主 要基於鍍層厚度測量和材料分析的 X-射線系統(tǒng)。採用全新數(shù)學計算方法,採用 新的 FP (Fundamental
Parameter）強大的電腦功能 來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
采用半導體接收器，分辨率較傳統(tǒng)品牌比例接收品提高數(shù)倍,較傳統(tǒng)X-RAY精確度提高了50%以上， 在測試薄金（Au)方面表現(xiàn)更為突出。
（2）、超常保固期：2年（24個月），較其它品牌整機延長一倍；
（3）、前沿的測量技術：所有產(chǎn)品均為美國原裝進口，
超低的售價：相對于其它品牌同檔次的機型售價降低了50%
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