美國(guó)x射線鍍金膜厚儀可應(yīng)用于在線膜厚測(cè)量,測(cè)氧化物,SiNx,感光保護(hù)膜和半導(dǎo)體膜.也可以用來測(cè)量鍍?cè)阡?鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗糙膜層. 薄膜表面或界面的反射光會(huì)與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān),因此可通過計(jì)算得到薄膜的厚度.光干涉法是一種無損,精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù),薄膜測(cè)量系統(tǒng)采用光干涉原理測(cè)量薄膜厚度。
博曼x射線鍍金膜厚儀：　
1,可以測(cè)量多層膜中每一層的厚度
2,三維的厚度型貌
3,遠(yuǎn)程控制和在線測(cè)量
4,可做150mm or 300mm 的大范圍的掃描測(cè)試
5,豐富的材料庫(kù):操作軟件的材料庫(kù)帶有大量材料的n和k數(shù)據(jù),基本上的常用材料都包括在這個(gè)材料庫(kù)中.用戶也可以在材料庫(kù)中輸入沒有的材料.
6,軟件操作簡(jiǎn)單,測(cè)速快:膜厚測(cè)量?jī)x操作非常簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快:100ms-1s.
7,軟件帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能,可對(duì)單/多層薄膜數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合分析,可對(duì)薄膜材料進(jìn)行預(yù)先模擬設(shè)計(jì).
8,軟件帶有可升級(jí)的掃描功能,進(jìn)行薄膜二維的測(cè)試,并將結(jié)果以2D或3D的形式顯示.軟件其他的升級(jí)功能還包括在線分析軟件,遠(yuǎn)程控制模塊等>膜厚儀的技術(shù)參數(shù)
厚度測(cè)量:10納米-250微米; 可以選擇250nm-1100nm間任一波長(zhǎng),也可在該范圍內(nèi)選擇多波長(zhǎng)分析;
多年來，我們一直致力于為PCB廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠(chéng)的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！如果您有什么問題或要求，請(qǐng)您隨時(shí)聯(lián)系我們。您的任何回復(fù)我們都會(huì)高度重視。金東霖祝您工作愉快！聯(lián)系人：舒翠  136 0256 8074  0755-29371655  QQ:2735820760