美國x射線鍍金膜厚儀可應(yīng)用于在線膜厚測量,測氧化物,SiNx,感光保護膜和半導(dǎo)體膜.也可以用來測量鍍在鋼,鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗糙膜層. 薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān),因此可通過計算得到薄膜的厚度.光干涉法是一種無損,精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù),薄膜測量系統(tǒng)采用光干涉原理測量薄膜厚度。
博曼x射線鍍金膜厚儀：　
1,可以測量多層膜中每一層的厚度
2,三維的厚度型貌
3,遠程控制和在線測量
4,可做150mm or 300mm 的大范圍的掃描測試
5,豐富的材料庫:操作軟件的材料庫帶有大量材料的n和k數(shù)據(jù),基本上的常用材料都包括在這個材料庫中.用戶也可以在材料庫中輸入沒有的材料.
6,軟件操作簡單,測速快:膜厚測量儀操作非常簡單,測量速度快:100ms-1s.
7,軟件帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能,可對單/多層薄膜數(shù)據(jù)進行擬合分析,可對薄膜材料進行預(yù)先模擬設(shè)計.
8,軟件帶有可升級的掃描功能,進行薄膜二維的測試,并將結(jié)果以2D或3D的形式顯示.軟件其他的升級功能還包括在線分析軟件,遠程控制模塊等>膜厚儀的技術(shù)參數(shù)
厚度測量:10納米-250微米; 可以選擇250nm-1100nm間任一波長,也可在該范圍內(nèi)選擇多波長分析;
多年來，我們一直致力于為PCB廠商，電鍍行業(yè)，科研機構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖！如果您有什么問題或要求，請您隨時聯(lián)系我們。您的任何回復(fù)我們都會高度重視。金東霖祝您工作愉快！聯(lián)系人：舒翠  136 0256 8074  0755-29371655  QQ:2735820760