點擊圖片查看大圖X光鍍層膜厚測試儀在技術(shù)上一直以來都于全的測厚行業(yè),X-射線熒光鍍層厚度膜厚測試儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層.
博曼膜厚測試儀:詳述
1.元素范圍：鋁13到鈾92。
2.x射線激發(fā)能量：50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
3.探測器：硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率
測量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素
4.過濾器/準直器：4個初級濾波器與4個電動準直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
5.聚焦：多固定聚焦與激光系統(tǒng)
數(shù)字脈沖處理：4096 多通道數(shù)字分析器與自動信號處理，包括X射線時間修正和防X射線積累
6.電腦：英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內(nèi)存,微軟Windows 7 專業(yè)64位等效
7.鏡頭：1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
8.電源：150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
9.工作環(huán)境：50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無冷凝水
10.重量：32公斤
11.內(nèi)部尺寸：高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
12.外形尺寸：高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24)
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