點擊圖片查看大圖單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達(dá)25元素
（BOWMAN）博曼膜厚測試儀應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領(lǐng)域.讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造大的價值是金東霖追求的目標(biāo)，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖,有需要的朋友請聯(lián)系周小姐，聯(lián)系電話：0755-29371651
半導(dǎo)體博曼X-RAY鍍層膜厚測試儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。
它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請專利的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測量。在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的BOWMAN專有X-射線光學(xué)設(shè)計使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測量和成分分析。博曼膜厚測試儀可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。具有強(qiáng)大功能的X-射線可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)25種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的朋友請來電咨詢希望我們能成為長期的合作伙伴！聯(lián)系人：周小姐，聯(lián)系電話：0755-29371651
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