一、光電耦合器pct老化試驗箱符合標準概要：

　　高壓加速老化試驗箱符合標準主要是測半導體主要的作用就是測試半導體的封裝濕氣的能力,它的有著非常精確的測試能力,非?？?并且他的全程自動可以使得在測試過程中更加的方便快捷測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度,濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,在常見的故障方式是主動的金屬花區(qū)域所造成的腐蝕或者是短路,或者是封裝體在因腳間因為污染造成的短路,廣泛應用與線路板多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力與工作應力,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。,

　　二、主要參數(shù):

　　a.溫度范圍:+100℃～+132℃.

　　b.溫度波動度:±0.5℃.

　　c.溫度均勻度:±1.5℃.

　　d.濕度范圍:R.H飽和蒸氣.

　　e.濕度波動度:±1.5%R.H.

　　f.濕度均勻度:±3.0%R.H.

　　g.壓力范圍：+0～2.0./2.5/3.0/3.5/4.0kg/cm2.(供選擇)

　　h.循環(huán)方式:水蒸氣自然對流循環(huán).

　　i.測時間設置：0～999Hr.

　　j.加壓時間：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2約45分鐘.

　　k.光電耦合器pct老化試驗箱滿足：在溫度110度、濕度90%，壓力2個大氣壓，或者溫度120度、濕度95%、壓力1.2個大氣壓時可有效測試.

　　j.升溫時間:由100℃升至+132℃約10分鐘非線性空載.

　　m.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率.

　　三、高溫光電耦合器pct老化試驗箱結構:

　　1.圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中露滴水設計。

　　2.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品;

　　3.精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h;

　　4.自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，專利安全門把設計，內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護;

　　5.專利型packing，箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。

　　6.實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度;

　　7.臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

　　光電耦合器pct老化試驗箱符合標準儀器特點：

　　1,實驗過程不需要任何的操作,全程都是自動的,方便快捷。

　　2,有著好的三重壓力安全保護裝置,采用控制器內(nèi)部兩段式超溫保護機械式壓力安全保護裝置。

　　3,有著手動安全保護排壓伐,警急安全裝置兩段式自動排壓伐,有了安全裝置,在操作過程中,可以減少不必要的損失。

　　4,光電耦合器pct老化試驗箱符合標準內(nèi)有著非常好的雙重過熱保護裝置：當鍋內(nèi)溫度過高時,機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源,減少損失,使得機體的壽命大大的增加。

　　5,采用了好的溫度控制器,相比以前這款LED數(shù)字型溫度控制器能夠更加的精確試驗溫度設定,有著PID的控制能夠把誤差縮小到±0.1℃。

　　6,好的LED數(shù)字型定時器,當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗完全。

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